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JIMA RT RC-05B分辨率測試卡
,JIMA RT RC-05B分辨率測試卡IMA RT RC-05B是一款采用最新半導(dǎo)體光刻技術(shù)制作的微型分辨率測試卡
更新時(shí)間：2026-03-05
USAF 1951美國phantech 分辨率測試卡
光學(xué)成像系統(tǒng)的分辨率指該系統(tǒng)能否分開兩個(gè)靠近的點(diǎn)或物體細(xì)節(jié)的能力，通常以每毫米可以識別的線對數(shù)（lp/mm）來表示光學(xué)成像系統(tǒng)分辨率的大小。美國phantech 分辨率測試卡
更新時(shí)間：2026-03-05
WEK35391-2017空間分辨力測試卡
WEK35391-2017空間分辨力測試卡,WEK35391-2017分辨力測試卡每個(gè)線對組由4塊規(guī)格尺寸相同的薄片平行排列構(gòu)成（薄片之間用與薄片等厚的金屬隔片隔開），兩側(cè)放置最厚薄片的2倍厚度的校準(zhǔn)塊，每組線對卡里面的金屬片組間隔為2.5mm。
更新時(shí)間：2026-03-04
RT RC-02B分辨率測試卡
RC-02B分辨率測試卡X射線分辨率測試卡致力于關(guān)注各種檢測儀器，其中包括無損檢測儀器，JIMA分辨率測試卡，用于測量X射線系統(tǒng)的分辨率，以保證X射線系統(tǒng)在微米和納米焦點(diǎn)的圖像質(zhì)量。
更新時(shí)間：2025-07-02
RT CT-01JIMA分辨率卡
RT CT-01 JIMA分辨率卡致力于關(guān)注各種檢測儀器，其中包括無損檢測儀器，JIMA分辨率測試卡，用于測量X射線系統(tǒng)的分辨率，以保證X射線系統(tǒng)在微米和納米焦點(diǎn)的圖像質(zhì)量。
更新時(shí)間：2025-06-30
RT RC-04分辨率測試卡
RC-04分辨率測試卡是一種用于設(shè)置和測試微焦 X 射線系統(tǒng)的光刻生產(chǎn)的測試模式。它支持 0.1 µm 和 10 µm 之間的分辨率，對應(yīng)于 0.2 µm 和 20 µm 之間的焦斑尺寸。
更新時(shí)間：2025-06-30
RT RC-05B分辨率測試卡
分辨率測試卡是一款采用半導(dǎo)體光刻技術(shù)制作的微型測試卡。它用于校準(zhǔn)和監(jiān)控系統(tǒng)分辨率，確保微焦點(diǎn)或納米焦點(diǎn)X射線檢測系統(tǒng)獲得高質(zhì)量的結(jié)果。
更新時(shí)間：2025-06-30

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